En Metalinspec Laboratorios, estamos equipados con tecnología avanzada de Microscopía Electrónica de Barrido (SEM) para proporcionar análisis detallados y de alta resolución que son cruciales en una variedad de aplicaciones industriales y de investigación. La SEM permite una observación detallada de la topografía y la composición de las muestras a escalas microscópicas, ofreciendo insights valiosos sobre la estructura, la morfología y la composición elemental de los materiales.
¿Qué es la Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)?
La SEM es una técnica de microscopía que utiliza un haz de electrones para escanear la superficie de una muestra, generando imágenes de alta resolución. Este método no solo revela detalles superficiales con un aumento significativo, sino que también permite análisis cualitativos y cuantitativos de la composición elemental mediante la espectroscopía por dispersión de energía de rayos X (EDS) acoplada.
Importancia del Análisis por SEM
El análisis por MEB es fundamental en sectores como la metalurgia, la electrónica, la nanotecnología, y los biomateriales, proporcionando información vital para el control de calidad, la investigación y el desarrollo, la solución de problemas de fabricación y la evaluación de fallos.
A continuación, le detallamos los ensayos principales que proporcionamos en para este tipo de pruebas:
Ofrecemos servicios de Análisis elemental por EDS, bajo la norma ASTM E 1508, rango elemental desde el B hasta el U.
El análisis elemental por EDS o la espectroscopía de rayos X de energía dispersiva captura los Rayos X emitidos por cada punto de la superficie de la muestra cuando es bombardeada por un haz de electrones, permite obtener información analítica cualitativa y cuantitativa de los puntos, líneas o áreas seleccionadas.
(Scanning Electron Microscopy - SEM)
Ofrecemos servicios de Análisis por Microscopía de Barrido - SEM, con un alcance en aumentos hasta de 33 000x, con un rango elemental desde el B hasta el U.
Durante el análisis SEM, se pueden realizar ensayos de fractografía, EDS para analizar quimicamente algún área puntual, donde podemos observar la presencia de impurezas o inclusiones.
Ofrecemos servicios de análisis de Electrones Retrodispersados, bajo la norma ASTM E 1508, con un alcance en aumentos hasta de 33 000x.
Los electrones retrodispersados se producen cuando un electrón del haz colisiona de frente con el núcleo de un átomo en la muestra, siendo expulsado en dirección opuesta y saliendo de la muestra.
El análisis de electrones retrodispersados nos arroja como resultado una imagen de morfología.
Ofrecemos servicios de análisis de Electrones Secundarios, con un alcance en aumentos hasta de 33 000x.
Los Electrones Secundarios se generan cuando un electrón del haz interactúa de cerca con el núcleo de un átomo de la muestra, brindando suficiente energía a uno o varios electrones interiores para desplazarse fuera de la muestra. Estos electrones poseen una energía muy baja (menos de 5eV) y, por lo tanto, necesitan encontrarse muy cerca de la superficie para liberarse.
El análisis de electrones secundarios nos arroja como resultado una imagen de morfología.
Ofrecemos servicios de Morfología, con un alcance en aumentos hasta de 33 000x.
Se define la morfología del material mediante una revisión puntual a las características físicas de la muestra, mostrando los diversos tipos de estructuras.
